In English

Characterizations of GaAs-based long wavelenght laser materials by X-ray diffraction

Qin Fen Gu
Göteborg : Chalmers tekniska högskola, 2005.
[Examensarbete på avancerad nivå]


Publikationen registrerades 2006-08-29. Den ändrades senast 2013-04-04

CPL ID: 2922

Detta är en tjänst från Chalmers bibliotek